本发明属于缺陷检测领域，公开了一种印制电路板缺陷检测方法、装置、设备及存储介质。该方法包括：获取待检测印制电路板的电路板图像；在所述电路板图像中绘制若干个待检测感兴趣区域；从预设模型池中选取各待检测感兴趣区域对应的检测模型；根据所述检测模型对对应的待检测感兴趣区域进行缺陷检测，获得缺陷检测结果。由于本发明是从预设模型池中选取各待检测感兴趣区域对应的检测模型进而对待检测感兴趣区域进行缺陷检测。相对于现有的为每一个待检测感兴趣区域绑定一个模型进行检测的方式，本发明上述方式能够在预设模型池中对检测模型统一管理，提高模型的利用效率、降低模型管理复杂度。