一种接触孔及其制作方法
实质审查的生效
摘要
本发明提供一种接触孔及其制作方法,该接触孔制作方法包括以下步骤,提供一半导体结构,其中,半导体结构包括多个间隔设置的闸极结构及覆盖闸极结构的层间介质层,于层间介质层的上表面形成一光阻层中,并图案化光阻层以得到光阻开口;基于图案化的光阻层形成接触孔于层间介质层,且于形成接触孔的过程中扩大光阻开口以使接触孔的内壁形成内壁转角;去除光阻层,并圆化接触孔的顶部转角及接触孔的内壁转角。本发明通过设计形成接触孔的步骤,当接触孔的底面与闸极结构上表面齐平时,增加扩大光阻开口的步骤,形成接触孔后增加圆化接触孔的顶部转角及内壁转角的步骤,增大了后续沉积步骤的沉积面积,降低了沉积难度,提升了后续沉积步骤的良率。
基本信息
专利标题 :
一种接触孔及其制作方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114334811A
申请号 :
CN202210244493.8
公开(公告)日 :
2022-04-12
申请日 :
2022-03-14
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
廖军张志敏
申请人 :
广州粤芯半导体技术有限公司
申请人地址 :
广东省广州市黄埔区凤凰五路28号
代理机构 :
上海光华专利事务所(普通合伙)
代理人 :
余明伟
优先权 :
CN202210244493.8
主分类号 :
H01L21/768
IPC分类号 :
H01L21/768 H01L21/027 H01L21/311 H01L23/522
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21/00
专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21/70
由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L21/71
限定在组H01L21/70中的器件的特殊部件的制造
H01L21/768
利用互连在器件中的分离元件间传输电流
法律状态
2022-04-29 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : H01L 21/768
申请日 : 20220314
申请日 : 20220314
2022-04-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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