半导体结构及其制作方法
实质审查的生效
摘要

本发明提供一种半导体结构及其制作方法。所述制作方法包括:提供半导体衬底以及位于半导体衬底上的外延层;在外延层中形成多个主凹槽,主凹槽的底面露出半导体衬底,剩余的外延层作为多个虚设栅极;虚设栅极具有相对的顶面和底面,其中,虚设栅极的顶面宽度大于底面宽度,且其顶面与底面之间具有收缩部,从而后续获得的金属栅极结构也为上宽下窄的形状且具有收缩部,如此有助于提高金属栅极结构的电流控制能力,减小金属栅极结构的寄生电容,进一步提高半导体器件的电性能。本发明提供的半导体结构包括上述的虚设栅极或金属栅极结构。

基本信息
专利标题 :
半导体结构及其制作方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114420639A
申请号 :
CN202210321479.3
公开(公告)日 :
2022-04-29
申请日 :
2022-03-30
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
陈维邦郑志成
申请人 :
合肥晶合集成电路股份有限公司
申请人地址 :
安徽省合肥市新站区合肥综合保税区内西淝河路88号
代理机构 :
上海思微知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
周耀君
优先权 :
CN202210321479.3
主分类号 :
H01L21/8238
IPC分类号 :
H01L21/8238  H01L29/423  H01L27/092  
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21/00
专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21/70
由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L21/77
在公共衬底中或上面形成的由许多固态元件或集成电路组成的器件的制造或处理
H01L21/78
把衬底连续地分成多个独立的器件
H01L21/82
制造器件,例如每一个由许多元件组成的集成电路
H01L21/822
衬底是采用硅工艺的半导体的
H01L21/8232
场效应工艺
H01L21/8234
MIS工艺
H01L21/8238
互补场效应晶体管,例如CMOS
法律状态
2022-05-20 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : H01L 21/8238
申请日 : 20220330
2022-04-29 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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