半导体存储装置及检查方法
专利权的终止
摘要
提供一种半导体存储装置，具有可瞬时进行涵盖全地址空间的失效位图的确认的单元。具备如下强制控制电路中的任意一种：对由特定的地址信号所选择的内存单元的写入数据或读出数据的逻辑进行强制控制的数据逻辑强制控制电路(21)，对由特定的行地址所选择的内存单元的控制，强制进行与通常动作不同的控制的特定行强制控制电路(40)，对由特定的列地址所选择的内存单元的控制，强制进行与通常动作不同的控制的特定列强制控制电路(50)。该强制失效动作模式与通常动作模式可分别选择。
基本信息
专利标题 ：
半导体存储装置及检查方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1770318A
申请号 ：
CN200510106464.1
公开（公告）日 ：
2006-05-10
申请日 ：
2005-09-27
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
元持健治车田希总
申请人 ：
松下电器产业株式会社
申请人地址 ：
日本大阪府
代理机构 ：
中国专利代理(香港)有限公司
代理人 ：
浦柏明
优先权 ：
CN200510106464.1
主分类号 ：
G11C11/34
IPC分类号 ：
G11C11/34 G11C29/00 G11C29/04 H01L21/66
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C11/08
应用多孔存储元件的，例如：应用多孔磁芯存储器；应用把几个单独的多孔存储元件合并起来的板
G11C11/21
应用电元件的
G11C11/34
应用半导体器件的
法律状态
2012-11-28 ：
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101355719965
IPC(主分类) : G11C 11/34
专利号 : ZL2005101064641
申请日 : 20050927
授权公告日 : 20100324
终止日期 : 20110927
号牌文件序号 : 101355719965
IPC(主分类) : G11C 11/34
专利号 : ZL2005101064641
申请日 : 20050927
授权公告日 : 20100324
终止日期 : 20110927
2010-03-24 ：
授权
2006-07-05 ：
实质审查的生效
2006-05-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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