用于对集成电路进行统计建模的方法与系统

发明专利申请公布后的视为撤回

摘要

公开了一种方法、系统以及程序产品，用于对集成电路以统计方式建立模型，其提供了关于模型参数之间部分相关性信息。本发明为将要被建立模型的数据确定一个方差－协方差矩阵；对该方差－协方差矩阵进行主要分量分析；并且对每一个主要分量创建一个具有独立分布的统计模型，允许通过电路模拟器计算每一单个的模型参数作为加权和。该统计模型提供了关于各个晶体管基于布局的相似性而将会互相跟踪得有多么好的信息。这允许设计人员量化和利用设计实践，例如，通过令所有栅极朝向同一方向使所有晶体管相类似的设计实践。还包括使用该统计模型来模拟电路的一种方法、系统以及程序产品。

基本信息

专利标题：

用于对集成电路进行统计建模的方法与系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN1770167A

申请号：

CN200510108439.7

公开（公告）日：

2006-05-10

申请日：

2005-10-08

授权号：

暂无

授权日：

暂无

发明人：

卡尔文·J·比特纳史蒂文·A·格伦登李维美陆宁约瑟夫·S·沃茨

申请人：

国际商业机器公司

申请人地址：

美国纽约

代理机构：

北京市柳沈律师事务所

代理人：

黄小临

优先权：

CN200510108439.7

主分类号：

G06F17/50

IPC分类号：

G06F17/50