用于扫描探针显微镜的装置和方法
发明专利申请公布后的视为撤回
摘要
用于扫描探针显微镜的装置，具有扫描显微镜测量设备、控制设备和/或分析设备，所述测量设备包括用于扫描显微镜测量的测量探针和用于设置扫描显微镜待测量的试样的试样支承体，所述控制设备以系统集成方式地与扫描显微镜测量设备相连，其中所述控制设备被设置，以根据预给定的控制参数自动地控制测量设备用于实施扫描显微镜测量，所述分析设备以系统集成方式地与扫描显微镜测量设备相连，其中所述分析设备被设置，以根据预给定的分析参数自动分析借助扫描显微镜测量设备进行的测量。
基本信息
专利标题 ：
用于扫描探针显微镜的装置和方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN101040346A
申请号 ：
CN200580033919.X
公开（公告）日 ：
2007-09-19
申请日 ：
2005-09-30
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
延斯·施特鲁克迈尔卡尔·施拉根豪夫
申请人 ：
南比蒂翁有限责任公司
申请人地址 ：
德国德累斯顿
代理机构 ：
北京集佳知识产权代理有限公司
代理人 ：
杨生平
优先权 ：
CN200580033919.X
主分类号 ：
G12B21/20
IPC分类号 ：
G12B21/20 G12B21/00
法律状态
2010-08-18 ：
发明专利申请公布后的视为撤回
号牌文件类型代码 : 1603
号牌文件序号 : 101004077152
IPC(主分类) : G12B 21/20
专利申请号 : 200580033919X
公开日 : 20070919
号牌文件序号 : 101004077152
IPC(主分类) : G12B 21/20
专利申请号 : 200580033919X
公开日 : 20070919
2007-11-21 ：
实质审查的生效
2007-09-19 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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