一种扫描探针显微镜
授权
摘要

本实用新型公开了一种扫描探针显微镜,包括扫描组件和驱动部件,扫描组件包括扫描探针组件和光学显微镜组件,扫描探针组件包括支撑部件、设置在支撑部件上的检测头、与检测头位置相对应的扫描台;光学显微镜组件包括支架和设置在支架上的光学显微镜,光学显微镜设置在检测头上方。扫描探针组件与光学显微镜组件分体设置,探测头由支撑部件独立支撑,能够实现检测头轻量化和微型化,因此检测头相对支撑部件的结构刚性和固有频率显著提高,有效提升了扫描探针组件的稳定性;光学显微镜由支架独立支撑,提升了光学显微镜组件的灵活性,可以根据实际应用领域选配最合适的光学显微镜。

基本信息
专利标题 :
一种扫描探针显微镜
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122517604.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-10-19
授权号 :
CN216209253U
授权日 :
2022-04-05
发明人 :
吴浚瀚
申请人 :
广州市本原纳米仪器有限公司
申请人地址 :
广东省广州市天河区天河北路689号1311房(部位:自编之一单元)
代理机构 :
广州嘉权专利商标事务所有限公司
代理人 :
廖华均
优先权 :
CN202122517604.1
主分类号 :
G01Q60/00
IPC分类号 :
G01Q60/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01Q
扫描探针技术或设备;扫描探针技术的应用,例如,扫描探针显微术
G01Q60/00
特殊类型的SPM或其设备;其基本组成
法律状态
2022-04-05 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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