用于测量集中光束的方法和装置
发明专利申请公布后的视为撤回
摘要
本发明提供了一种用于对包括λ波长的光束进行仿形的方法和器件。接收该光束。通过使用已接收光束使得荧光材料激发出荧光，从而产生具有不同于波长λ的λ′波长的二次光。从已接收光束分离二次光。将分离的二次光光学定向至传感器。
基本信息
专利标题 ：
用于测量集中光束的方法和装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN101048647A
申请号 ：
CN200580037317.1
公开（公告）日 ：
2007-10-03
申请日 ：
2005-10-28
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
蒂莫西·N·托马斯布鲁斯·亚当斯迪安·C·詹宁斯
申请人 ：
应用材料股份有限公司
申请人地址 ：
美国加利福尼亚州
代理机构 ：
北京律诚同业知识产权代理有限公司
代理人 ：
徐金国
优先权 ：
CN200580037317.1
主分类号 ：
G01J1/42
IPC分类号 ：
G01J1/42
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J1/00
光度测定法，例如照相的曝光表
G01J1/42
采用电辐射检测器
法律状态
2011-03-23 ：
发明专利申请公布后的视为撤回
号牌文件类型代码 : 1603
号牌文件序号 : 101075676808
IPC(主分类) : G01J 1/42
专利申请号 : 2005800373171
公开日 : 20071003
号牌文件序号 : 101075676808
IPC(主分类) : G01J 1/42
专利申请号 : 2005800373171
公开日 : 20071003
2007-11-28 ：
实质审查的生效
2007-10-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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