测试装置
专利权的终止
摘要
本发明提供一种测试装置,具有:向电子设备施加测试图案的测试头;设置了多个机架侧连接器并通过机架侧连接器将控制信号提供给测试头的主机机架;将机架侧连接器和测试头进行光连接并将控制信号传输给测试头的电缆单元;其中电缆单元具有:用于传输控制信号的多个光纤电缆;设置在光纤电缆端部并与多个机架侧连接器对应而设置的多个单元侧连接器;对主机机架固定电缆单元的单元固定部;能够相对于对应的机架侧连接器各自独立插拔地保持各个单元侧连接器的连接器保持部。
基本信息
专利标题 :
测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN101088018A
申请号 :
CN200580044457.1
公开(公告)日 :
2007-12-12
申请日 :
2005-11-25
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
小野淳冈安俊幸藤本明博柴田正志
申请人 :
爱德万测试株式会社
申请人地址 :
日本东京
代理机构 :
北京中原华和知识产权代理有限责任公司
代理人 :
寿宁
优先权 :
CN200580044457.1
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2015-01-07 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101594994027
IPC(主分类) : G01R 31/28
专利号 : ZL2005800444571
申请日 : 20051125
授权公告日 : 20100512
终止日期 : 20131125
号牌文件序号 : 101594994027
IPC(主分类) : G01R 31/28
专利号 : ZL2005800444571
申请日 : 20051125
授权公告日 : 20100512
终止日期 : 20131125
2010-05-12 :
授权
2008-02-06 :
实质审查的生效
2007-12-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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2、
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