测试装置
实质审查的生效
摘要
本发明提供一种测试装置，其包括载板以及芯片封装结构。载板具有承载面。芯片封装结构设置于承载面上。芯片封装结构具有封装基板、芯片以及多个信号端子。封装基板包括相对的第一表面与第二表面。芯片位于第一表面上，而多个信号端子位于第二表面上且位于封装基板的至少一边缘。多个信号端子被配置于将芯片的接口信号引线至至少一边缘。
基本信息
专利标题 ：
测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114441933A
申请号 ：
CN202011440684.9
公开（公告）日 ：
2022-05-06
申请日 ：
2020-12-10
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
邱景泓廖立诠
申请人 ：
点序科技股份有限公司
申请人地址 ：
中国台湾新竹市公道五路二段83号7F-1
代理机构 ：
北京同立钧成知识产权代理有限公司
代理人 ：
宋兴
优先权 ：
CN202011440684.9
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 H01L23/544
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-05-24 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/28
申请日 : 20201210
申请日 : 20201210
2022-05-06 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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