测试装置
授权
摘要
本实用新型提供了一种测试装置，测试装置包括：底座，具有放置部，放置部用于放置被测试件；检测组件，具有测试部，测试部对应放置部设置，测试部用于检测被测试件；传动组件，传动组件包括滑块、推杆以及第一弹性件，滑块可移动地设置在底座上，滑块具有避让孔，推杆具有连接端和驱动端，推杆的连接端可移动地设置在避让孔内，推杆的驱动端对应放置部设置，推杆用于推动被测试件移动至测试位置，第一弹性件设置在避让孔内；驱动件，与滑块驱动连接，驱动件通过滑块驱动推杆移动。通过本申请提供的技术方案，能够解决现有技术中的测试装置无法满足芯片的测试要求的问题。
基本信息
专利标题 ：
测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202123438443.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-12-30
授权号 ：
CN216747984U
授权日 ：
2022-06-14
发明人 ：
吴俊洁
申请人 ：
苏州华太电子技术有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市自由贸易试验区苏州片区苏州工业园区星湖街328号创意产业园10-1F
代理机构 ：
北京康信知识产权代理有限责任公司
代理人 ：
褚敏
优先权 ：
CN202123438443.3
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-06-14 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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