一种PIN结构4H-SiC紫外光电探测器
专利权的终止
摘要

一种PIN结构4H-SiC紫外光电探测器,涉及一种光电探测器,尤其是涉及一种探测波长为200~400nm的SiC PIN紫外光电探测器。提供一种可用于在很强的可见及红外光背景下检测紫外信号的碳化硅(SiC)PIN结构紫外光电探测器。设有n+型衬底,在n+型衬底上依次外延生长n型层、n型层和p+型层,n+型衬底背面为n型欧姆接触电极,采用干法刻蚀工艺刻蚀一高度从表面p+型层到达n型层的器件隔离台阶,隔离台阶和p+型层表面覆盖氧化层,在p+型层表面的p型接触电极窗口处沉积p型欧姆接触电极,p型欧姆接触电极上一角覆盖金属Ti/Au层作为焊盘,覆盖氧化层的台面为器件的光敏面。

基本信息
专利标题 :
一种PIN结构4H-SiC紫外光电探测器
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200620156586.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2006-12-23
授权号 :
CN201032635Y
授权日 :
2008-03-05
发明人 :
卢嵩岳吴正云李凌陈厦平朱会丽
申请人 :
厦门三优光机电科技开发有限公司厦门大学
申请人地址 :
361000福建省厦门市火炬高新区创业园伟业楼N505
代理机构 :
厦门南强之路专利事务所
代理人 :
马应森
优先权 :
CN200620156586.1
主分类号 :
H01L31/105
IPC分类号 :
H01L31/105  H01L31/0224  
法律状态
2017-01-25 :
专利权的终止
专利权有效期届满号牌文件类型代码 : 1611
号牌文件序号 : 101700188567
IPC(主分类) : H01L 31/105
专利号 : ZL2006201565861
申请日 : 20061223
授权公告日 : 20080305
终止日期 : 无
2014-06-25 :
专利申请权、专利权的转移
专利权的转移号牌文件类型代码 : 1602
号牌文件序号 : 101702210764
IPC(主分类) : H01L 31/105
专利号 : ZL2006201565861
变更事项 : 专利权人
变更前权利人 : 厦门三优光电股份有限公司
变更后权利人 : 厦门三优光电股份有限公司
变更事项 : 地址
变更前权利人 : 361000 福建省厦门市火炬高新区创业园伟业楼N505
变更后权利人 : 361000 福建省厦门市火炬高新区创业园伟业楼N505
变更事项 : 专利权人
变更前权利人 : 厦门大学
变更后权利人 : 无
登记生效日 : 20140603
2014-04-30 :
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
号牌文件类型代码 : 1602
号牌文件序号 : 101700491614
IPC(主分类) : H01L 31/105
专利号 : ZL2006201565861
变更事项 : 专利权人
变更前 : 厦门三优光机电科技开发有限公司
变更后 : 厦门三优光电股份有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 361000 福建省厦门市火炬高新区创业园伟业楼N505
变更后 : 361000 福建省厦门市火炬高新区创业园伟业楼N505
变更事项 : 专利权人
变更前 : 厦门大学
变更后 : 厦门大学
2008-03-05 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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