改善半导体单晶硅研磨硅片平行度的装置
专利权的终止
摘要

一种改善半导体单晶硅研磨硅片平行度的装置,包括下磨盘、内齿轮、外齿轮和载体片,内齿轮外壁和外齿轮内壁为齿形壁,内齿轮外壁和外齿轮内壁之间的区域底部设有下磨盘。载体片水平状布置在下磨盘上,载体片经外轮廓上的齿件与内齿轮和外齿轮的齿形壁啮合;载体片上设有用于接纳被磨硅片的若干个放片孔,下磨盘内轮廓与内齿轮外壁之间留有一圈内空磨区,下磨盘外轮廓与外齿轮内壁之间留有一圈外空磨区;所述载体片的放片孔,每个放片孔的局部运动轨迹分别与内空磨区、外空磨区重叠。本装置对被磨硅片进行研磨作业,不但可以大大减少磨盘的修磨次数,还可以有效确保被磨硅片的平行度指标符合要求。

基本信息
专利标题 :
改善半导体单晶硅研磨硅片平行度的装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200820085030.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2008-04-02
授权号 :
CN201177164Y
授权日 :
2009-01-07
发明人 :
徐永忠汪贵发楼春兰郑辉赖建华
申请人 :
万向硅峰电子股份有限公司
申请人地址 :
324300浙江省开化县芹南路27号
代理机构 :
杭州裕阳专利事务所(普通合伙)
代理人 :
应圣义
优先权 :
CN200820085030.7
主分类号 :
F17D5/02
IPC分类号 :
F17D5/02  
IPC结构图谱
F
F部——机械工程;照明;加热;武器;爆破
F17
气体或液体的贮存或分配
F17D
管道系统;管路
F17D
管道系统;管路
F17D5/00
保护装置或观测装置
F17D5/02
漏失的预防、检查和确定位置
法律状态
2017-05-24 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101721406907
IPC(主分类) : F17D 5/02
专利号 : ZL2008200850307
申请日 : 20080402
授权公告日 : 20090107
终止日期 : 20160402
2009-01-07 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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