一种基板检测装置和检测方法
授权
摘要
本发明公开了一种基板检测装置和检测方法，所述基板检测装置包括第一图像采集单元、照明装置和控制器，其中所述第一图像采集单元，能够从不同角度采集被测基板的图像；所述照明装置，在所述第一图像采集单元采集被测基板的图像时照射所述被测基板；所述控制器，将来自第一图像采集单元从不同角度采集的图像合成为第一全景图像。本发明提供的实施例通过第一全景图像能够准确检测被测基板的显示不良，并解决现有技术中人工检测基板和检测记录的局限性，有效提高显示产品的生产良率。
基本信息
专利标题 ：
一种基板检测装置和检测方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN109900705A
申请号 ：
CN201910204011.4
公开（公告）日 ：
2019-06-18
申请日 ：
2019-03-18
授权号 ：
CN109900705B
授权日 ：
2022-06-10
发明人 ：
张志海孟庆勇
申请人 ：
合肥京东方光电科技有限公司;京东方科技集团股份有限公司
申请人地址 ：
安徽省合肥市新站区铜陵北路2177号
代理机构 ：
北京正理专利代理有限公司
代理人 ：
付生辉
优先权 ：
CN201910204011.4
主分类号 ：
G01N21/88
IPC分类号 ：
G01N21/88
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2022-06-10 ：
授权
2019-07-12 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/88
申请日 : 20190318
申请日 : 20190318
2019-06-18 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
