相位检测自动对焦像素元件及其形成方法，图像传感器及其形成...
授权
摘要
本申请涉及半导体技术领域，具体地涉及一种相位检测自动对焦像素元件及其形成方法，以及图像传感器及其形成方法。所述相位检测自动对焦像素元件(PDAF)包括：半导体衬底，所述半导体衬底包括至少两个像素区域；增透层，所述增透层位于所述半导体衬底上；至少两个掩埋透镜，所述至少两个掩埋透镜位于所述增透层上，位置对应于所述至少两个像素区域。所述掩埋透镜可以聚集射入到PDAF像素元件中的光线，增加所述PDAF像素元件的进光量，增大所述PDAF元件中像素区域之间的光强差别，增大所述PDAF像素元件对光线的响应角度，提高对焦灵敏度。
基本信息
专利标题 ：
相位检测自动对焦像素元件及其形成方法，图像传感器及其形成方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN110349987A
申请号 ：
CN201910638161.6
公开（公告）日 ：
2019-10-18
申请日 ：
2019-07-15
授权号 ：
CN110349987B
授权日 ：
2022-04-01
发明人 ：
黄增智倪凌云黄晓橹
申请人 ：
德淮半导体有限公司
申请人地址 ：
江苏省淮安市淮阴区长江东路599号
代理机构 ：
北京市一法律师事务所
代理人 ：
刘荣娟
优先权 ：
CN201910638161.6
主分类号 ：
H01L27/146
IPC分类号 ：
H01L27/146 H04N5/369
法律状态
2022-04-01 ：
授权
2019-11-12 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : H01L 27/146
申请日 : 20190715
申请日 : 20190715
2019-10-18 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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