一种基于温控系统电子元件的老化测试箱
专利权的终止
摘要

本实用新型公开了一种老化测试装置,尤其为一种基于温控系统电子元件的老化测试箱,包括壳体、开合门、下夹板、隔温层,所述壳体上设有电磁铁,所述电磁铁和所述壳体固定连接,所述壳体顶部内壁设有警报器,所述警报器和所述壳体固定连接,所述壳体内部卡和连接有分隔板;本装置上设有若干个温度控制箱,而且那个温度控制箱用分隔板给隔离开来,分隔板和温度控制箱内部设有隔温层,能够很好的隔离每个温度控制箱之间的温度,而且每个温度控制箱内设有若干个下夹板和上夹板,用来固定电子元件,温度控制箱能够调整温度,能够让人们来同时会测试不同温度下的来华情况,便于人们座对比,使测试效率升高。

基本信息
专利标题 :
一种基于温控系统电子元件的老化测试箱
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201920421663.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-03-30
授权号 :
CN209821316U
授权日 :
2019-12-20
发明人 :
沈钦锋李雪涵张彦坤吴帅
申请人 :
郑州市锦飞汽车电气系统有限公司
申请人地址 :
河南省郑州市经济技术开发区经开第七大街166号
代理机构 :
郑州欧凯专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
樊晓坤
优先权 :
CN201920421663.9
主分类号 :
G01R31/00
IPC分类号 :
G01R31/00  G01R1/04  G01K15/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
法律状态
2022-03-11 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : G01R 31/00
申请日 : 20190330
授权公告日 : 20191220
终止日期 : 20210330
2019-12-20 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
  • 联系电话
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 联系 Q Q
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 关注微信
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 收藏
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332