记忆体测试阵列

专利权人的姓名或者名称、地址的变更

摘要

一种记忆体测试阵列，包含第一记忆体阵列、第二记忆体阵列、及多个第一共用导电垫。第一记忆体阵列包含多条第一位元线及多条第一字元线。第二记忆体阵列与第一记忆体阵列相邻，且包含多条第二位元线及多条第二字元线。每个第一共用导电垫具有第一端及第二端，第一端及第二端分别耦接于第一位元线及第二位元线，或者分别耦接于第一字元线及第二字元线。本实用新型的记忆体测试阵列可以有效节省记忆体测试晶片的面积，并使测试过程更有效率。

基本信息

专利标题：

记忆体测试阵列

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201920429426.7

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-04-01

授权号：

CN209496624U

授权日：

2019-10-15

发明人：

张雄世廖昱程蔡孟学

申请人：

江苏时代全芯存储科技股份有限公司;江苏时代芯存半导体有限公司

申请人地址：

江苏省淮安市淮阴区长江东路北侧、中驰路西侧(长江东路601号)

代理机构：

北京律诚同业知识产权代理有限公司

代理人：

徐金国

优先权：

CN201920429426.7

主分类号：

G11C29/56

IPC分类号：

G11C29/56

相关图片

IPC结构图谱

G部——物理

G11

信息存储

G11C

静态存储器

G11C29/48

专门适用于从外部到存储器的静态存储中的测试装置，例如：用直接存储器存取或者用辅助访问路径

G11C29/56

用于静态存储器的外部测试装置，例如，自动测试设备；所用接口

法律状态

2022-02-18 ：

专利权人的姓名或者名称、地址的变更

IPC(主分类) : G11C 29/56
变更事项 : 专利权人
变更前 : 江苏时代全芯存储科技股份有限公司
变更后 : 北京时代全芯存储技术股份有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 223300 江苏省淮安市淮阴区长江东路北侧、中驰路西侧(长江东路601号)
变更后 : 100094 北京市海淀区丰豪东路9号院2号楼8层4单元802
变更事项 : 专利权人
变更前 : 江苏时代芯存半导体有限公司
变更后 : 江苏时代芯存半导体有限公司

2022-02-18 ：

专利申请权、专利权的转移

专利权的转移IPC(主分类) : G11C 29/56
登记生效日 : 20220208
变更事项 : 专利权人
变更前权利人 : 北京时代全芯存储技术股份有限公司
变更后权利人 : 北京时代全芯存储技术股份有限公司
变更事项 : 地址
变更前权利人 : 100094 北京市海淀区丰豪东路9号院2号楼8层4单元802
变更后权利人 : 100094 北京市海淀区丰豪东路9号院2号楼8层4单元802
变更事项 : 专利权人
变更前权利人 : 江苏时代芯存半导体有限公司

2019-10-15 ：

授权

注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。

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1、

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