一种快闪记忆体测试设备
授权
摘要
本实用新型涉及测试设备技术领域，具体涉及一种快闪记忆体测试设备。包括：测试箱、带有测试槽的测试盒、滑板、下压板、下压装置，所述测试箱顶部设有多个容纳槽，所述容纳槽内的测试箱上均布有多个测试盒，所述测试箱两侧设有滑轨，滑板设置在测试箱上方且与滑轨滑动连接，所述滑板上固定安装有下压装置，下压装置的下压端固定安装有用以按压测试盒的限位件下压板。本实用新型通过下压装置下压下压板将限位结构打开，使得能够同时打开多个测试盒，将快闪记忆体依次放入测试盒内，能够有效的加快安装效率，本实用新型通过采用手动按压和按压气缸按压两种按压方式进行测试盒的按压，能够适应不同场景下的按压模式。
基本信息
专利标题 ：
一种快闪记忆体测试设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022503184.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-11-03
授权号 ：
CN213366149U
授权日 ：
2021-06-04
发明人 ：
郭寂波
申请人 ：
深圳市芯探科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市南山区粤海街道高新区社区粤兴三道9号华中科技大学深圳产学研基地大楼B203
代理机构 ：
深圳市查策知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
曾令安
优先权 ：
CN202022503184.7
主分类号 ：
G11C29/56
IPC分类号 ：
G11C29/56
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/48
专门适用于从外部到存储器的静态存储中的测试装置，例如：用直接存储器存取或者用辅助访问路径
G11C29/56
用于静态存储器的外部测试装置，例如，自动测试设备；所用接口
法律状态
2021-06-04 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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