记忆体晶片超频测试装置
授权
摘要
本实用新型为一种记忆体晶片超频测试装置，应用在两阶段的记忆体晶片测试制程中，筛检不同速度的记忆体晶片，包含第一测试盘、第二测试盘、第三测试盘、第四测试盘、定位暂存盘、至少一预测试机台、多个测试机台以及机械手臂，机械手臂电性连接所述测试盘、定位暂存盘、预测试机台以及测试机台，预测试机台设置在定位暂存盘及测试机台的中间，对记忆体做第一阶段的测试及筛选，经过第一阶段预测试机台筛选通过的记忆体，将在测试机台进行完整的记忆体晶片测试。提高效率、准确度及减少误判。
基本信息
专利标题 ：
记忆体晶片超频测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921253975.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-08-05
授权号 ：
CN210253175U
授权日 ：
2020-04-07
发明人 ：
洪康宁
申请人 ：
全何科技股份有限公司
申请人地址 ：
中国台湾新北市
代理机构 ：
北京华夏博通专利事务所(普通合伙)
代理人 ：
刘俊
优先权 ：
CN201921253975.X
主分类号 ：
B07C5/34
IPC分类号 ：
B07C5/34 B07C5/02 B07C5/36
IPC结构图谱
B
B部——作业；运输
B07
将固体从固体中分离；分选
B07C
邮件分拣；单件物品的分选，或适于一件一件地分选的散装材料的分选，如拣选
B07C5/00
按照物品或材料的特性或特点分选，例如用检测或测量这些特性或特点的装置进行控制；用手动装置，例如开关，来分选
B07C5/34
根据其他特殊性质来分选
法律状态
2020-04-07 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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