一种微通道半导体激光器测试及老化夹具
授权
摘要
本实用新型涉及一种微通道半导体激光器测试及老化夹具，包括底座、支架、压紧装置和铜带，支架设置在底座上，支架的顶板上设置有压紧装置；底座中设置有凹槽，凹槽的底部设置有第一通孔和第二通孔；凹槽的上方自下到上依次设置有第一压块和第二压块，铜带设置在第一压块和第二压块之间，压紧装置位于第二压块的上方。本实用新型在测试过程中利用压紧装置将微通道半导体激光器压紧于底座上，避免了在测试过程中使用螺母固定微通道半导体激光器压紧的方法，提高了测试效率，并且也保证了测试的一致性。微通道半导体激光器是大电流测试，铜带可以解决了因接触不良引起发热，避免了电缆直接测试的扭曲力很大导致的测试效果不佳的问题。
基本信息
专利标题 ：
一种微通道半导体激光器测试及老化夹具
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921515589.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-09-12
授权号 ：
CN211014488U
授权日 ：
2020-07-14
发明人 ：
邵长国马崇彩孙素娟开北超郑兆河
申请人 ：
山东华光光电子股份有限公司
申请人地址 ：
山东省济南市历下区高新区天辰大街1835号
代理机构 ：
济南金迪知识产权代理有限公司
代理人 ：
赵龙群
优先权 ：
CN201921515589.3
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2020-07-14 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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