一种基于恒温平台的半导体制冷片老化测试治具
授权
摘要
本实用新型公开了一种基于恒温平台的半导体制冷片老化测试治具，其包括：恒温平台、电源、温度监控记录仪和电控装置，所述半导体制冷片设置在恒温平台上，所述电控装置线性连接在电源与半导体制冷片之间，进行半导体制冷片的间歇性供电，所述温度监控记录仪的探头与半导体制冷片的表面相连接进行温度监测。本实用新型所述的基于恒温平台的半导体制冷片老化测试治具，满足各种环境温度的设定，使得测试更加真实，通电一定时间，然后再断电一段时间使其冷却，并设定目标循环测试次数，实现半导体制冷片的自动老化测试，降低人工成本，提升产品出厂的品质。
基本信息
专利标题 ：
一种基于恒温平台的半导体制冷片老化测试治具
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921597720.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-09-24
授权号 ：
CN210720611U
授权日 ：
2020-06-09
发明人 ：
耿靳财徐越祁奇王春芳
申请人 ：
青云志能源科技(苏州)有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市吴江区五方路208号（青云志）
代理机构 ：
苏州启华专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
徐伟华
优先权 ：
CN201921597720.5
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2020-06-09 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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