本实用新型公开了一种用于芯片自动化检测的治具，包括水平调节机构、支架、治具底座、治具上盖、测试镜头、水平驱动机构和竖直驱动机构，支架设置在水平调节机构上，利用水平驱动机构调节支架水平位置，治具底座设置在支架上，治具上盖通过竖直驱动机构和水平驱动机构设置在支架上，利用水平驱动机构驱动治具上盖向治具底座水平移动，利用竖直驱动机构驱动治具上盖竖直移动，测试镜头设置在治具上盖上。本实用新型将测试治具分体设置，通过水平驱动机构和竖直驱动机构实现治具的自动开合盖；并且在治具上设置定位凹槽和定位凸块实现X轴方向的定位，第一定位斜面和第二定位斜面实现Y轴方向的定位，保证测试镜头与芯片对齐。