本发明公开了一种计算功率半导体开关器件的损耗和结温的方法，存储介质和电子设备。该方法包括：根据由待测半导体开关器件组成的逆变器的模型获取在稳定工况下单个半导体开关器件的输出电流波形，并根据所述输出电流波形确定用于计算在稳定工况下单个半导体开关器件的损耗的各项参数；根据所述各项参数，确定该半导体开关器件在初始结温下的损耗；利用逆变器的散热器台面温度以及所述半导体开关器件的损耗对该半导体开关器件的结温进行反推，如果反推的结温与初始的结温之间的差值未满足收敛条件，则令初始结温等于反推结温，进行迭代重新计算该半导体开关器件的损耗，直至满足所述收敛条件，将满足所述收敛条件的损耗和反推的结温结果作为稳态结果输出。