一种散射测量装置及方法
实质审查的生效
摘要

本发明提供一种散射测量装置及方法,包括:光源,用于产生照明光束;分束镜,用于将照明光束分为第一照明光束和第二照明光束;物镜,将第一照明光束汇聚到基底表面,并收集基底表面散射的光;成像单元和探测单元,成像单元将物镜的光瞳成像到探测单元;反射单元,用于使第二照明光束的光轴发生偏转,并将第二照明光束反射后经成像单元成像到探测单元上;其中,反射单元包括至少一个光学元件,反射单元中存在至少一个光学元件包括中性吸收材料;中性吸收材料指的是在预设波段内吸收率的波动率小于预设值的材料。本发明实施例,以减小S偏振光和P偏振光光强差异,解决了由于偏振光强差异导致的测量误差,降低了技术难度和成本。

基本信息
专利标题 :
一种散射测量装置及方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114509408A
申请号 :
CN202011289171.2
公开(公告)日 :
2022-05-17
申请日 :
2020-11-17
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
朱申磊杨晓青
申请人 :
上海微电子装备(集团)股份有限公司
申请人地址 :
上海市浦东新区自由贸易试验区张东路1525号
代理机构 :
北京品源专利代理有限公司
代理人 :
孟金喆
优先权 :
CN202011289171.2
主分类号 :
G01N21/49
IPC分类号 :
G01N21/49  G01B11/06  G02B5/00  G02B27/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/47
散射,即漫反射
G01N21/49
固体或流体中的散射
法律状态
2022-06-03 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/49
申请日 : 20201117
2022-05-17 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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