一种测试探针清洁装置及其夹持构件和测试基座
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摘要

一种测试探针清洁装置及其夹持构件和测试基座,涉及半导体技术领域,本发明为了解决现有的如何有效代替人工清洁和如何将探头彻底清洁干净的问题。一种测试探针清洁装置,包括清洁构件、夹持构件、测试插座、测试基座和测试探针;所述清洁构件上方设置有夹持构件,所述清洁构件下方设置有测试插座,所述测试插座安装在测试基座上,所述夹持构件能够通过传动机械臂移动控制测试插座上方的清洁构件,能够使清洁构件移动至测试插座内,并与测试插座内的测试探针的探头贴合抵靠。本发明解决了现有的如何有效代替人工清洁和如何将探头彻底清洁干净的问题,进而达到了有效代替人工清洁,同时保证了清洁质量和测试效率。

基本信息
专利标题 :
一种测试探针清洁装置及其夹持构件和测试基座
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN112462109A
申请号 :
CN202011365615.6
公开(公告)日 :
2021-03-09
申请日 :
2020-11-28
授权号 :
CN112462109B
授权日 :
2022-04-19
发明人 :
贺涛金永斌丁宁朱伟
申请人 :
法特迪精密科技(苏州)有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市苏州工业园区兴浦路200号5#101、102、201、202
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202011365615.6
主分类号 :
G01R1/073
IPC分类号 :
G01R1/073  G01R1/067  B08B13/00  B08B1/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/06
测量引线;测量探针
G01R1/067
测量探针
G01R1/073
多个探针
法律状态
2022-04-19 :
授权
2021-03-26 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 1/073
申请日 : 20201128
2021-03-09 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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