一种用于测试DFN封装IC的新结构探针卡
授权
摘要
本实用新型公开的属于探针卡制造技术领域，具体为一种用于测试DFN封装IC的新结构探针卡，其包括：通用印刷线路板、环氧探针卡、机械加工部件和QFN封装，所述通用印刷线路板顶部右侧设置有印刷线路板插座，所述通用印刷线路板顶部左侧设置环氧探针卡，所述环氧探针卡顶部具有多个环氧探针卡内针，所述环氧探针卡顶部设置机械加工部件，多个所述环氧探针卡内针插接在机械加工部件内部，将QFN封装封装好的IC引脚安放在机械加工部件顶部的槽内，使IC引脚与环氧探针卡里的环氧探针卡内针接触，将信号从印刷线路板插座引出，减少了机械加工部件的数量，不依赖专用的印刷线路板，缩短了加工时间，减少制作费用，为测试降低了成本。
基本信息
专利标题 ：
一种用于测试DFN封装IC的新结构探针卡
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020219296.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-02-27
授权号 ：
CN212111533U
授权日 ：
2020-12-08
发明人 ：
安奎
申请人 ：
上海依然半导体测试有限公司
申请人地址 ：
上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区碧波路500号204室
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202020219296.7
主分类号 ：
G01R1/067
IPC分类号 ：
G01R1/067 G01R3/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/06
测量引线；测量探针
G01R1/067
测量探针
法律状态
2020-12-08 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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