一种存储器可靠性测试装置
授权
摘要
本实用新型提供了一种存储器可靠性测试装置，包括控制器、电源模块和测试工位，所述测试工位用于放置待测试芯片；所述电源模块与待测试芯片和控制器连接，分别为控制器和待测试芯片供电；所述控制器分别与待测试芯片和电源模块连接，控制电源模块的测试电压输出以及待测试芯片的flash操作。该测试装置能够针对待测试芯片的flash模块进行多种电压波形的测试，测试结果更全面、准确。
基本信息
专利标题 ：
一种存储器可靠性测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020271990.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-03-06
授权号 ：
CN211087930U
授权日 ：
2020-07-24
发明人 ：
陈尚立
申请人 ：
深圳市中科蓝讯科技股份有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市南山区沙河街道高发社区侨香路智慧广场A栋2102
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202020271990.3
主分类号 ：
G11C29/56
IPC分类号 ：
G11C29/56
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/48
专门适用于从外部到存储器的静态存储中的测试装置，例如：用直接存储器存取或者用辅助访问路径
G11C29/56
用于静态存储器的外部测试装置，例如，自动测试设备；所用接口
法律状态
2020-07-24 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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