非挥发性存储器芯片的可靠性测试装置
授权
摘要
本实用新型涉及一种非挥发性存储器芯片的可靠性测试装置，该装置其包括：中控板系统、可控电源系统、上位机软件系统、显示系统以及控温系统；其中：所述中控板系统分别与所述上位机软件系统、所述显示系统以及所述可控电源系统连接；其中：所述控温系统包括高温箱和低温箱。本实用新型通过设计一种中控板系统、可控电源系统、上位机软件系统、显示系统以及控温系统相互集成的装置，降低NVM产品的可靠性测试需要投入大量的硬件成本和时间成本。
基本信息
专利标题 ：
非挥发性存储器芯片的可靠性测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020884584.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-05-22
授权号 ：
CN212032656U
授权日 ：
2020-11-27
发明人 ：
郑彦磊朱笑鶤
申请人 ：
上海鑫匀源科技有限公司
申请人地址 ：
上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区碧波路500号105室
代理机构 ：
上海欣创专利商标事务所
代理人 ：
包宇霆
优先权 ：
CN202020884584.4
主分类号 ：
G11C29/56
IPC分类号 ：
G11C29/56
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/48
专门适用于从外部到存储器的静态存储中的测试装置，例如：用直接存储器存取或者用辅助访问路径
G11C29/56
用于静态存储器的外部测试装置，例如，自动测试设备；所用接口
法律状态
2020-11-27 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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