本发明公开了非易失存储器的可靠性测试方法及装置，涉及非易失存储器技术领域。本发明反复循环擦除、编程、读取非易失存储器的指定地址，在每次擦除后记录当次的擦除时间，在每次编程后记录当次的编程时间，若某次循环中非易失存储器出错，则将最近一次记录的擦除时间和编程时间反馈给上位机，非易失存储器出错时向上位机反馈的最近一次记录的擦除时间便是非易失存储器的擦除时间最大值、最近一次记录的编程时间便是非易失存储器的编程时间最大值，实现了对非易失存储器可靠性的摸底测试。