一种基于荧光薄膜的反射接收的紫外硅基探测器
授权
摘要
本实用新型涉及探测技术领域，且公开了一种基于荧光薄膜的反射接收的紫外硅基探测器，包括L型通管，所述L型通管底部的右侧内嵌有U型框，所述L型通管顶部的右侧连通有固定框，所述U型框和固定框的内部之间栓接有保护框，所述保护框内部的开口卡接有石英透镜，所述L型通管右侧的底部内嵌有连接框，所述L型通管左侧的底部连通有限位框，所述连接框和限位框的内部之间栓接有增透外壳，所述增透外壳的内部卡接有可见光增透镜，所述L型通管左上角的开口处栓接有固定块；本实用新型具备方便装置日常维护的优点，解决了目前的紫外硅基探测器内部的透镜和反射镜更换不便，不方便装置的日常维护的问题。
基本信息
专利标题 ：
一种基于荧光薄膜的反射接收的紫外硅基探测器
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020584861.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-04-18
授权号 ：
CN212085023U
授权日 ：
2020-12-04
发明人 ：
陆海周东唐起
申请人 ：
苏州镓敏光电科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市苏州金鸡湖大道99号苏州纳米城2幢706
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202020584861.X
主分类号 ：
H01L31/101
IPC分类号 ：
H01L31/101 H01L31/0232 H01L31/0203
法律状态
2020-12-04 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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