可实现激光芯片老化过程光功率实时监控的装置

授权

摘要

本实用新型涉及测试和老化设备技术领域，特别涉及可实现激光芯片老化过程光功率实时监控的装置，光功率监控机构连接于上位机电脑，用于采集激光芯片在老化过程中产生的激光数据，光功率监控机构的监控基座一侧固定有光功率探测PCB组件，另一侧固定有清洁吹气条，芯片夹具紧靠清洁吹气条，光功率探测PCB组件连接于上位机电脑，清洁吹气条内部固定有多个多孔陶瓷衰减片。与现有技术相比，本实用新型的可实现激光芯片老化过程光功率实时监控的装置无需搭载积分球运动扫描机构，结构设计更简单且设备体积大幅减小，可实现大功率激光芯片老化过程中光功率单通道独立实时采集，使各通道之间关联性降低且设备通道密度更高。

基本信息

专利标题：

可实现激光芯片老化过程光功率实时监控的装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202020718404.5

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-04-30

授权号：

CN211979468U

授权日：

2020-11-20

发明人：

罗骏李伟

申请人：

镭神技术（深圳）有限公司

申请人地址：

广东省深圳市宝安区新安街道67区留仙一路甲岸科技工业园1号厂房1楼B区

代理机构：

深圳市中科创为专利代理有限公司

代理人：

彭涛

优先权：

CN202020718404.5

主分类号：

G05B19/042

IPC分类号：

G05B19/042