一种用于芯片测试机上多通道信号导通治具
授权
摘要
本实用新型公开了一种用于芯片测试机上多通道信号导通治具,包括治具本体,所述治具本体的内部分别开设有放置槽和凹槽,所述凹槽的表面开设有中心孔,所述治具本体正面顶部和底部的两侧均固定连接有固定块,所述固定块的内部活动连接有固定杆,所述固定杆的表面固定连接有第一压板,固定杆的两端均延伸至固定块的外部,固定杆的一端固定连接有第一齿轮,第一齿轮的表面啮合有第二齿轮。本实用新型通过设置固定块、固定杆、第一压板、第一齿轮、第二齿轮、连接杆、第二压板和支撑块,能够对芯片进行固定,使芯片测试机治具便于使用,芯片测试机治具能够对不同规格的芯片进行定位,提高了检测准确性,有利于人们的使用。
基本信息
专利标题 :
一种用于芯片测试机上多通道信号导通治具
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021018907.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-06-05
授权号 :
CN212845749U
授权日 :
2021-03-30
发明人 :
卞杰锋
申请人 :
苏州全威电子科技有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市工业园区星海街5号星海5号创意园118室
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202021018907.8
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-03-30 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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