本实用新型涉及电子元器件技术领域，尤其涉及一种晶片电容的高效测试设备。它包括控制器，与控制器依次连接的振动送料机构、吸料机构、转位机构、测试机构以及排料分仓机构，所述的振动送料机构、吸料机构、转位机构、测试机构以及排料分仓机构还分别与相应的驱动气缸相连，所述的转位机构包括复式转盘，所述的复式转盘采用卧式水平布局，在复式转盘的正面周边均匀开有槽孔，槽孔底端开有槽洞，在槽洞的孔底部镶上作为下电极的银合金层；所述的银合金层上开有与槽洞相通小孔，所述的小孔下端设有将晶片电容吸附定位的真空槽，所述的小孔与真空槽相通。整个工作过程运转顺畅，大大地提高了生产效，晶片电容也不与其它工件产生摩擦，不会有刮伤。