一种专用测试探针
授权
摘要

本实用新型公开了一种专用测试探针,包括底板和设置于底板上端的横杆,所述横杆与底板之间平行设置,横杆上套有一个以上的固定框,固定框的一端均垂直安装有探针,横杆的两端均垂直设有一支撑杆,支撑杆下端均安装于底板上,横杆的相对面上均垂直设有一滑槽,横杆正对于滑槽处均安装有滑块,滑块一端均滑动安装于滑槽中,底板的表面上安装有一个以上的调节机构。本实用新型结构简单,能根据电路板的调整调整限位板,方便了对电路板进行限位,并能根据测试点在横杆上套设上相对应的固定框数量,并能横向及纵向移动固定框,直至使固定框上的探针与电路板上的测试点相对设置,在下压横杆后,就能一次性对所以的测试点进行同步的测试,增加了效率。

基本信息
专利标题 :
一种专用测试探针
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021123504.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-06-17
授权号 :
CN212693956U
授权日 :
2021-03-12
发明人 :
黄财仙
申请人 :
深圳市顺天祥电子有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市宝安区沙井街道圳头路3号A栋2楼
代理机构 :
北京盛凡智荣知识产权代理有限公司
代理人 :
鲍敬
优先权 :
CN202021123504.X
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28  G01R1/04  G01R1/067  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-03-12 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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