一种多封装光模块带监控老化测试装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种多封装光模块带监控老化测试装置，包括测试箱，所述测试箱的内底部一端固定安装有控制箱，所述测试箱的内侧壁与控制箱的侧部之间固定安装有第二加热板与老化板，所述控制箱的侧部上转动安装有第一加热板，所述老化板设置于第一加热板与第二加热板之间，所述老化板上设置有用于光模块安装测试的模块插头；通过第一加热板、第二加热板与固定座等结构的设计，设置在两组加热板之间的老化板在进行加温老化测试时，老化板上插接安装的待测光模块可从上下部同时均匀受热，从而获得较为有效的老化测试结果，同时转动安装在固定座上第一加热板可便于工作人员对待测的光模块进行插接安装设置。
基本信息
专利标题 ：
一种多封装光模块带监控老化测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021169924.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-06-22
授权号 ：
CN212622861U
授权日 ：
2021-02-26
发明人 ：
荣彬彬郝雷
申请人 ：
武汉亿思源光电股份有限公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷大道58号关南福星医药园三期1幢11层3号
代理机构 ：
武汉蓝宝石专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
严超
优先权 ：
CN202021169924.1
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2021-02-26 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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