一种压电半导体薄膜的极化实验装置
授权
摘要

本实用新型提供一种压电半导体薄膜的极化实验装置,包括实验箱、承载板、自锁式移动轮以及箱门,所述承载板上端面安装有实验箱,所述实验箱前端面连接有箱门,所述承载板下端面安装有自锁式移动轮,所述承载板上端面装配有真空机,所述实验箱右端面安装有右承重板,所述右承重板上端面装配有制冷机,所述实验箱左端面安装有左承重板,所述左承重板上端面装配有风机,所述实验箱内壁左侧装配有加热管,所述加热管外侧安装有隔热板,所述隔热板右端面连接有左隔热密封门,所述实验箱内壁右侧装配有制冷管,所述制冷机左端面连接有制冷管,所述制冷管外侧安装有耐热板,本实用新型自由切换高、低温以及真空条件,调节灵活,安全性高。

基本信息
专利标题 :
一种压电半导体薄膜的极化实验装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021329821.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-07-08
授权号 :
CN213181805U
授权日 :
2021-05-11
发明人 :
傅小龙
申请人 :
江西工程学院
申请人地址 :
江西省新余市仙来西大道859号
代理机构 :
深圳市润启知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
孟丽娟
优先权 :
CN202021329821.7
主分类号 :
G01R31/00
IPC分类号 :
G01R31/00  G01R1/04  G01R1/02  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
法律状态
2021-05-11 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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