一种便捷式插拨测试装置
授权
摘要
本实用新型属于电子芯片测试设备技术领域，公开了一种便捷式插拨测试装置，封装外壳设于PCB测试板上，在封装外壳上开设有矩形槽，测试座通过螺钉与矩形槽可拆卸连接，活动组件包括固定板和活动板，固定板通过螺钉与PCB测试板固定连接，活动板沿着穿设于固定板和活动板的导向柱上下垂直滑动，第一弹片和第二弹片与固定板卡接；在活动板内并与第一弹片对应处嵌接有陶瓷棒，第一弹片上开设有条状斜槽，陶瓷棒穿设于条状斜槽并与其相匹配；测试座上开设有多个引脚孔，引脚孔和第二弹片的位置排布与待测模块的引脚的排布一一对应。本实用新型设计巧妙，结构合理，避免了测试引脚损伤，提高了测试设备寿命，极大的高了测试效率。
基本信息
专利标题 ：
一种便捷式插拨测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021660510.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-08-11
授权号 ：
CN212965292U
授权日 ：
2021-04-13
发明人 ：
曾伍平
申请人 ：
深圳斯普瑞溙科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市宝安区西乡街道南昌社区航城大道华丰国际机器人产业园A栋三层
代理机构 ：
深圳市创富知识产权代理有限公司
代理人 ：
曾敬
优先权 ：
CN202021660510.9
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R27/02 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-04-13 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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