一种散热性芯片检测设备
授权
摘要
本实用新型公开了一种散热性芯片检测设备，包括工作台，所述工作台的上壁面安装有定位结构，所述定位结构的上壁面安装有夹紧结构，所述工作台的上壁面安装有支撑结构，所述支撑结构的下壁面安装有检测结构，所述定位结构包括：定位板、四个定位块、主板、芯片、充电座以及充电头；本实用新型涉及芯片检测技术领域，本实用新型中，在定位板上安装充电装置，通过更换定位板实现提前让芯片工作，以便于在上一块芯片检测后可以直接检测这一块芯片，解决了现有的散热性芯片检测设备浪费检测时间，降低检测效率的问题。
基本信息
专利标题 ：
一种散热性芯片检测设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021787549.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-08-25
授权号 ：
CN213275858U
授权日 ：
2021-05-25
发明人 ：
刘增红
申请人 ：
镇江矽佳测试技术有限公司
申请人地址 ：
江苏省镇江市高新区南徐大道298号A座高新大厦
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202021787549.7
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R31/26 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-05-25 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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