本实用新型涉及芯片测试装置技术领域，具体是一种用于芯片测试的工位口定位装置，所述基板的上方位于中心位置处开设有盖板槽，所述盖板槽的内侧设置有盖板，所述盖板的外侧与盖板槽的内侧相配合，所述基板的前侧两端对称开设有两个正向气道，且基板的两侧位于一端位置处均开设有侧向气道，所述盖板的下侧设置有真空吸附气道。本实用新型设计新颖，结构巧妙，通过真空吸附气道，吸收放料口和放料槽内侧的空气，使其内部形成负压状态，将芯片固定于放料口的内侧，防止对芯片表面造成挤压而导致芯片损坏，通过采用有机玻璃材质构件的垫块，防止芯片测试时产生的静电将芯片损坏。