一种用于芯片测试的防静电定位装置
授权
摘要
本实用新型涉及芯片测试技术领域,公开了一种用于芯片测试的防静电定位装置,为了提高芯片测试的精准稳定性,所述定位框架的底端连接有防静电底板,所述定位板架的上表面贯穿开设有精准定位机构,所述定位调节孔B的上方配套连接有定位卡套B,所述定位调节孔A的上方配套连接有定位卡套A。本实用新型通过两组定位卡套与定位调节孔的一一对应,能够便于工作人员调节定位卡套之间的间隔距离,进而能够便于工作人员将芯片焊孔套接固定在定位卡套上,使定位装置适应不同大小类型的芯片,且在定位过程中,通过精准定位机构的升降调节,能够便于工作人员对芯片的水平支撑高低进行精准调节,进而使芯片放置处于精准的水平稳定状态。
基本信息
专利标题 :
一种用于芯片测试的防静电定位装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202022212831.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-10-06
授权号 :
CN213275691U
授权日 :
2021-05-25
发明人 :
王战朋
申请人 :
苏州武乐川精密电子有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市工业园区唯亭浦田路118号4号厂房一楼
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202022212831.9
主分类号 :
G01R1/04
IPC分类号 :
G01R1/04 G01R31/28 H01L21/68 H05F1/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳;支承构件;端子装置
法律状态
2021-05-25 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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