本实用新型涉及芯片测试技术领域，公开了一种用于芯片测试的防静电定位装置，为了提高芯片测试的精准稳定性，所述定位框架的底端连接有防静电底板，所述定位板架的上表面贯穿开设有精准定位机构，所述定位调节孔B的上方配套连接有定位卡套B，所述定位调节孔A的上方配套连接有定位卡套A。本实用新型通过两组定位卡套与定位调节孔的一一对应，能够便于工作人员调节定位卡套之间的间隔距离，进而能够便于工作人员将芯片焊孔套接固定在定位卡套上，使定位装置适应不同大小类型的芯片，且在定位过程中，通过精准定位机构的升降调节，能够便于工作人员对芯片的水平支撑高低进行精准调节，进而使芯片放置处于精准的水平稳定状态。