一种具有防静电功能的芯片测试治具
授权
摘要
本实用新型公开了一种具有防静电功能的芯片测试治具，包括基座、活动块、挡块，所述基座的上开设有活动块容纳槽，所述活动块容纳槽的前后两侧壁均开设有条形槽，所述挡块固定在活动块容纳槽的左右两端且位于基座上面，所述活动块放置于活动块容纳槽内，所述活动块上设有芯片槽，所述芯片槽连接有感应槽，所述感应槽穿设于活动块上。本实用新型的有益效果是：是一种便于更换、防静电的测试治具，通过将芯片槽底部采用防静电的ESD420材质制成，屏蔽静电的效果，然后将芯片槽制成可拆卸的活动块，可实现仅更换活动块就可对不同尺寸、形状的芯片进行检测，而且更换简单、方便，同时可增加芯片槽的数量来提升检测效率。
基本信息
专利标题 ：
一种具有防静电功能的芯片测试治具
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020573851.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-04-17
授权号 ：
CN212083607U
授权日 ：
2020-12-04
发明人 ：
荣国青门蒙张健星
申请人 ：
苏州辉垦电子科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市工业园区唯亭春辉路5号跨春工业坊5#D
代理机构 ：
苏州智品专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
吕明霞
优先权 ：
CN202020573851.6
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-12-04 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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