一种芯片测试用定位装置
授权
摘要
一种芯片测试用定位装置，包括操作平台、控制单元和测试机构，其特征在于，所述操作平台由定位机构、水平操作台、四个顶脚和配电箱组成；所述定位机构镶嵌在水平操作台内，且定位机构位于水平操作台中间；所述配电箱通过电线与控制单元、定位机构和测试机构连接；所述控制单元安装在水平操作台上，且控制单元通过导线与定位机构连接；所述测试机构与水平操作台螺栓连接；所述测试机构位于定位机构旁，且测试机构通过导线与控制单元连接；所述控制单元通过传输指令进行对测试机构和定位机构的控制；该装置能够精准的将芯片进行定位，且能够识别芯片是否加紧；能够提高芯片检测的检测效率，能够对不同尺寸形状的芯片进行定位测试。
基本信息
专利标题 ：
一种芯片测试用定位装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202123161379.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-12-15
授权号 ：
CN216696563U
授权日 ：
2022-06-07
发明人 ：
林志敏林宏晖谢凌晖李晓婷
申请人 ：
深圳市塬煌电子科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市宝安区沙井街道新二庄村路41号金塘工业区第5栋
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202123161379.9
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-06-07 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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