一种砷化镓抛光片样品厚度测量工装
授权
摘要

本实用新型涉及质量检测技术领域,且公开了一种砷化镓抛光片样品厚度测量工装,包括测量箱,所述测量箱内壁顶部固定安装有滑轨,所述滑轨底部滑动连接有齿条板,所述测量箱内壁前后两侧之间固定安装有固定杆,所述固定杆外侧活动连接有与齿条板底部啮合的第一齿轮,所述测量箱内壁后侧固定安装有位于固定杆下方的固定轴,所述固定轴前侧活动连接有与第一齿轮啮合的第二齿轮,所述第二齿轮前侧固定连接有一端延伸至测量箱前侧的转动轴。该砷化镓抛光片样品厚度测量工装,将样品水平放置从前至后由固定轮与活动轮之间接触点滑入,指针偏转,即可将抛光片的厚度测量值进行放大,方便了使用者使用。

基本信息
专利标题 :
一种砷化镓抛光片样品厚度测量工装
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202022224972.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-10-09
授权号 :
CN213301042U
授权日 :
2021-05-28
发明人 :
卜俊鹏
申请人 :
浙江康鹏半导体有限公司
申请人地址 :
浙江省金华市兰溪市兰江街道创新大道1199号(自主申报)
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202022224972.2
主分类号 :
G01B5/06
IPC分类号 :
G01B5/06  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B5/00
以采用机械方法为特征的计量设备
G01B5/02
用于计量长度、宽度或厚度
G01B5/06
用于计量厚度
法律状态
2021-05-28 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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