多带电粒子束检查中的串扰消除
实质审查的生效
摘要

公开了一种用于增强图像的改进装置和方法,更具体地,公开了一种用于通过多带电粒子束检查中的串扰消除来增强图像的装置和方法。一种用于增强图像的方法包括从多束检查系统的检测器获取多个图像信号的第一图像信号。第一图像信号对应于来自检测器的第一区域的检测信号,其中第一二次电子束的电子和第二二次电子束的电子入射在该第一区域上。该方法还包括使用第一图像信号和与第一二次电子束和第二二次电子束相关联的束强度之间的关系,从第一图像信号中减少源自第二二次电子束的串扰污染。该方法还包括在减少后,生成对应于第一二次电子束的第一图像。

基本信息
专利标题 :
多带电粒子束检查中的串扰消除
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114556515A
申请号 :
CN202080071919.3
公开(公告)日 :
2022-05-27
申请日 :
2020-08-08
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
方伟浦凌凌王波董仲华王勇新
申请人 :
ASML荷兰有限公司
申请人地址 :
荷兰维德霍温
代理机构 :
北京市金杜律师事务所
代理人 :
赵林琳
优先权 :
CN202080071919.3
主分类号 :
H01J37/22
IPC分类号 :
H01J37/22  H01J37/28  G06T1/20  
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01J
放电管或放电灯
H01J37/00
有把物质或材料引入使受到放电作用的结构的电子管,例如为了对其检验或加工的
H01J37/02
零部件
H01J37/22
与管子相联的光学或摄影装置
法律状态
2022-06-14 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : H01J 37/22
申请日 : 20200808
2022-05-27 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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