带电粒子束装置
实质审查的生效
摘要

本发明的带电粒子束装置(100)具备:照射部(110),其对试样(S)照射带电粒子束;检测部(130),其输出向试样(S)照射带电粒子束引起的信号;显示部(154),其输出用于从多个条件组中选择1个条件组的条件选择界面;以及控制部(151),其执行与关注对象物相关的评价。条件组包含:从多个已学习模型中确定1个已学习模型的信息;从包含照射条件以及检测条件的至少一方的多个搜索条件中确定1个搜索条件的信息;以及从规定照射部(110)以及检测部(130)的至少一方的动作的多个解析条件中确定1个解析条件的信息。带电粒子束装置(100)经由条件选择界面接受条件组的选择,基于所确定的搜索条件,对试样(S)的第一区域照射带电粒子束,检测由该照射引起的第一信号,向所确定的已学习模型交接基于第一信号的信息,从所确定的已学习模型取得表示包含关注对象物的候选位置的试样(S)的第二区域的信息,第二区域是第一区域的一部分且比第一区域小,基于所确定的解析条件,对第二区域照射带电粒子束,对由该照射引起的第二信号进行检测,将基于第二信号的信息输入到控制部(151)。

基本信息
专利标题 :
带电粒子束装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114270182A
申请号 :
CN201980099623.X
公开(公告)日 :
2022-04-01
申请日 :
2019-09-04
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
小松崎谅千叶宽幸陈伟健佐藤博文
申请人 :
株式会社日立高新技术
申请人地址 :
日本东京都
代理机构 :
北京银龙知识产权代理有限公司
代理人 :
许静
优先权 :
CN201980099623.X
主分类号 :
G01N23/2251
IPC分类号 :
G01N23/2251  H01J37/22  H01J37/252  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/225
利用电子或离子微探针
G01N23/2251
使用入射电子束,例如扫描电子显微镜
法律状态
2022-04-19 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 23/2251
申请日 : 20190904
2022-04-01 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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