一种双旋转补偿器型穆勒矩阵椭偏仪系统参数的校准方法
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摘要
本发明公开了一种双旋转补偿器型穆勒矩阵椭偏仪系统参数的校准方法,属于精密光学测量仪器系统校准领域,该方法包括将多个校准样件依次放置于第一旋转补偿器和第二旋转补偿器之间的校准平面,采集多个校准样件的光强信息;对所述光强信息进行傅里叶分析获得所述光强信息的傅里叶系数,结合所述傅里叶系数建立所述光强信息的矩阵形式函数;使用特征值校准法求解光强信息的矩阵形式函数,得到校准后的起偏臂的调制矩阵和检偏臂的分析矩阵,从而完成系统参数的校准。本发明提出的双旋转补偿器型穆勒矩阵椭偏仪系统参数的校准方法无需对系统进行建模,可以避免因建模偏差引入的系统误差,大幅度降低了系统校准的难度并且大大提高了系统的校准精度。
基本信息
专利标题 :
一种双旋转补偿器型穆勒矩阵椭偏仪系统参数的校准方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN113281267A
申请号 :
CN202110530232.8
公开(公告)日 :
2021-08-20
申请日 :
2021-05-14
授权号 :
CN113281267B
授权日 :
2022-05-20
发明人 :
陈修国盛胜庄锦峰刘世元
申请人 :
华中科技大学
申请人地址 :
湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
代理机构 :
华中科技大学专利中心
代理人 :
夏倩
优先权 :
CN202110530232.8
主分类号 :
G01N21/21
IPC分类号 :
G01N21/21 G06F17/14 G06F17/16
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/21
影响偏振的性质
法律状态
2022-05-20 :
授权
2021-09-07 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/21
申请日 : 20210514
申请日 : 20210514
2021-08-20 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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