单模光纤耦合器相移测量装置、方法、存储介质

授权

摘要

本发明属于光纤技术领域，具体涉及一种单模光纤耦合器相移测量装置、方法、存储介质，旨在解决现有耦合器相移测量方法测量过程繁杂且测量精度较低的问题。本装置包括光谱测量装置，配置为发射扫描光源至混合Sagnac干涉仪；还配置为采集混合Sagnac干涉仪互易端口和非互易端口的干涉光谱信号，并发送至计算模块；混合Sagnac干涉仪，配置为对输入的扫描光源进行分束，经保偏光纤后产生干涉光谱信号并输出；计算模块，配置为基于接收的干涉光谱信号提取谷值波长，计算单模光纤耦合器的相移值。本发明大大降低了耦合器相移的复杂度，并提高了测量精度。

基本信息

专利标题：

单模光纤耦合器相移测量装置、方法、存储介质

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN113654766A

申请号：

CN202110931801.X

公开（公告）日：

2021-11-16

申请日：

2021-08-13

授权号：

CN113654766B

授权日：

2022-04-08

发明人：

杨远洪王瑞琴李慧

申请人：

北京航空航天大学

申请人地址：

北京市海淀区学院路37号

代理机构：

北京市恒有知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：

郭文浩

优先权：

CN202110931801.X

主分类号：

G01M11/02

IPC分类号：

G01M11/02

IPC结构图谱

G部——物理

G01

测量；测试

G01M

机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试

G01M11/02

•光学性质测试

法律状态

2022-04-08 ：

授权

2021-12-03 ：

实质审查的生效

IPC(主分类) : G01M 11/02
申请日 : 20210813

2021-11-16 ：

公开

注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。

文件下载

暂无PDF文件可下载