本发明涉及测试装置领域，具体涉及一种DFB激光器芯片表面缺陷的检测方法及其装置，输送组件转动设置在支撑组件的一侧，翻转板转动设置在输送组件的一侧，卡板滑动设置在翻转板的一侧，芯片通过输送组件可以进入到翻转板和卡板之间放置，底板与翻转板固定连接，第二输送线转动设置在翻转板的一侧，在芯片翻转180°后，可以移动第二输送线将芯片取出，第一检测器设置在输送组件的一侧，第一检测器对芯片的一个面进行检测，第二检测器设置在第二输送线的一侧，第二检测器对芯片的另一个面进行检测，处理器上传检测数据进行判断，从而可以快速翻转和进行检测，提高工作效率。