PG芯片光刻生产工艺
实质审查的生效
摘要

本发明提供一种PG芯片光刻生产工艺,涉及半导体器件加工技术领域。本发明中包括准备粘度为300~400mPa.S的光刻胶;在所述光刻胶中添加玻璃粉,并装入盛有陶瓷球的陶瓷罐中,通过滚动的方式,将玻璃粉碾碎混合均匀,获取玻璃浆;所述玻璃粉的质量为光刻胶质量的1~2倍;通过涂布机将所述玻璃浆均匀涂覆在硅片的表面,在通过曝光将光刻版的图案转移到所述硅片上;通过喷淋显影的方式将所述硅片中心多余的玻璃浆去除;上述玻璃浆配置,使粘度降低,改善玻璃浆在晶圆表面的流动性,更加均匀的覆盖,并且由于粘度降低在显影时可以降低喷淋压力和时间,减少或避免了有机溶液向玻璃粉中的渗透,在玻璃烧结后,玻璃在融化结晶过程中不会改变方向,避免空洞的产生。

基本信息
专利标题 :
PG芯片光刻生产工艺
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114361011A
申请号 :
CN202111532103.9
公开(公告)日 :
2022-04-15
申请日 :
2021-12-15
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
汪良恩李建利汪曦凌
申请人 :
安徽芯旭半导体有限公司
申请人地址 :
安徽省池州市经济技术开发区凤凰大道98号
代理机构 :
北京久诚知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
翟丽红
优先权 :
CN202111532103.9
主分类号 :
H01L21/027
IPC分类号 :
H01L21/027  G03F7/004  
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21/00
专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21/02
半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21/027
未在H01L21/18或H01L21/34组中包含的为进一步的光刻工艺在半导体之上制作掩膜
法律状态
2022-05-03 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : H01L 21/027
申请日 : 20211215
2022-04-15 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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