一种基于同步参考光校正的椭偏测量系统
实质审查的生效
摘要
本申请提供了一种基于同步参考光校正的椭偏测量系统,该系统中在起偏器之后设置有分光器,该分光器能够将起偏器出射的线偏振光分成不同方向的测量光和参考光,所述参考光照射到所述第二探测器,所述测量光沿着入射光束的方向经过待检测样品反射最终由第一探测器捕获,处理器可对所述第一探测器和所述第二探测器同步测量的光强进行收集和处理,由于参考光与测量光来自于同一方向的线偏振光,因此能够使用参考光来有效地实时校正光源强度波动,提高系统测量稳定性,从而实现了具备超高稳定度的椭偏测量系统。
基本信息
专利标题 :
一种基于同步参考光校正的椭偏测量系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114427834A
申请号 :
CN202111570272.1
公开(公告)日 :
2022-05-03
申请日 :
2021-12-21
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
牛晓海黄建华尚振华姚岭邱青菊吴博文吕彤欣
申请人 :
睿励科学仪器(上海)有限公司
申请人地址 :
上海市浦东新区华佗路68号6幢
代理机构 :
北京启坤知识产权代理有限公司
代理人 :
姜冰莹
优先权 :
CN202111570272.1
主分类号 :
G01B11/00
IPC分类号 :
G01B11/00 G01B11/02 G01B11/06 H01L21/67
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
法律状态
2022-05-20 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 11/00
申请日 : 20211221
申请日 : 20211221
2022-05-03 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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